gb/t 43035-米乐app官方

本文件的目的是检查膜集成电路和混合膜集成电路（fics和hfics，以下简称器件）内部的材料、结构和制造工艺。通常在封帽或包封前进行该项检验，从而找出并剔除带有内部缺陷的器件。这种缺陷会导致器件在正常应用中失效。其他的验收准则应与购买商或供应商商定。 标准号：gb/t 43035-2023 标准名称：半导体器件集成电路第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范第一篇：内部目检要求 英文名称：semiconductor devices—integrated circuits—part 20:generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits—section 1:requirements for internal visual examination 发布日期：2023-09-07 实施日期：2023-09-07 采用标准：iec 60748-20-1:1994《半导体器件集成电路第20部分:膜集成电路和混合膜集成电路总规范第一篇:内部目检要求》 idt 等同采用 起草人：王婷婷、吕红杰、冯玲玲、王琪、李林森、雷剑、张亚娟 起草单位：中国电子科技集团公司第四十三研究所、中国电子技术标准化研究院 归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会(sac/tc 78)